中国测试技术研究院成功研制核辐射探测用模拟前端集成电路芯片

   日期:2020-11-17     来源:中国测试技术研究院    浏览:337    
核心提示:中国测试技术研究院成功研制核辐射探测用模拟前端集成电路芯片
  日前,由中国测试技术研究院牵头研发,一种基于CMOS 0.35μm工艺的新一代核辐射探测用多通道低噪声模拟前端专用集成电路芯片成功问世。该芯片研制历时近4年,先后4次改版流片,总体水平达到国际先进,填补了国内空白,打破了国际禁运,对加快我国新一代低功耗、超小型、高性能核仪器的研发具有重要的意义。


 
该芯片是高端核辐射防护仪表、核医学成像、高能物理实验仪器、航空航天等辐射探测领域信号拾取与处理的关键核心元器件,集成了模拟与数字电路,可实现辐射探测器信号的快速读出,功耗低、可靠性好,特别适用空间和能耗要求较高的微小型高端辐射仪表,在核电、医院等电离辐射应用场所个人剂量监测、环境监测、辐射成像等领域有着良好应用前景。
 
芯片的成功研制以及我院围绕该芯片进一步的应用开发,未来将对增强我国核仪器自主创新的实力、推动核技术进步,发挥积极作用。
 
 
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